日本DENSOKU電測膜厚測試儀QNIx系列

日本DENSOKU電測膜厚測試儀QNIx系列

更容易測量麻煩的薄膜厚度
便攜式薄膜厚度計，提高生產(chǎn)效率

QNIx系列產(chǎn)品只需一個超輕便的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，無需攜帶厚膜厚度計。
無線測量無電纜。 測量數(shù)據(jù)可以很容易地傳輸?shù)絺€人計算機(jī)，并有助于防止測量期間墜落事故。

QNIx系列的特點
無需膠片校準(zhǔn)即可精確測量薄膜厚度

提供出廠時輸入的16點校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這消除了對麻煩的膠片校準(zhǔn)工作的需要并且能夠進(jìn)行精確的膜厚度測量。

薄膜厚度測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

傳統(tǒng)的測量儀器通過將測量儀器和PC與電纜連接來傳輸測量數(shù)據(jù)。 QNIx系列使用“無線Dongle"，只需將其插入USB端口即可進(jìn)行傳輸。可以快速輕松地查看測量數(shù)據(jù)。

超輕型無線測量儀器

探頭測量的數(shù)據(jù)無線傳輸?shù)街鳈C(jī)。降低像常規(guī)產(chǎn)品一樣被抓住或妨礙并導(dǎo)致事故的風(fēng)險。此外，探頭重30克，無需攜帶重型儀器。

探頭難以斷裂，不會在工件上留下痕跡

QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍，耐用性提高了30％。即使它發(fā)生故障，也可以輕松拆卸和維修，縮短維修周期。此外，還附有紅寶石芯片，可在不損壞樣品（樣品）的情況下進(jìn)行安全測量。

便攜式薄膜厚度計型號代碼指導(dǎo)

[F]黑色金屬材料的非磁性薄膜厚度測量

[N]對有色金屬材料的非導(dǎo)電薄膜厚度測量

[FN]使用單個探針測量黑色和有色金屬材料的薄膜厚度

[T]微探針

[M]測量數(shù)據(jù)存儲功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C