電池制藥工業(yè)場景氣體監(jiān)測微量分析計
產(chǎn)品名稱: 電池制藥工業(yè)場景氣體監(jiān)測微量分析計
產(chǎn)品型號: CRDS
產(chǎn)品特點: 電池制藥工業(yè)場景氣體監(jiān)測微量分析計技術(shù)路線采用高性能光腔衰蕩光譜 (CRDS) 技術(shù),通過測量激光在高品質(zhì)諧振腔內(nèi)的指數(shù)衰蕩時間,直接換算出 ppm/ppb 級痕量氣體濃度,無需化學試劑或耗材 。代表機型SPARK 系列免校準、免耗材,生命周期成本低小流量即可高響應(yīng),可測 H?O、CO、CO?、CH?、C?H? 等多種雜質(zhì)適用于高純氣體、半導(dǎo)體特氣、低溫分離裝置等場景 HALO K
電池制藥工業(yè)場景氣體監(jiān)測微量分析計 的詳細介紹
電池制藥工業(yè)場景氣體監(jiān)測微量分析計
電池制藥工業(yè)場景氣體監(jiān)測微量分析計
技術(shù)路線
采用高性能光腔衰蕩光譜 (CRDS) 技術(shù),通過測量激光在高品質(zhì)諧振腔內(nèi)的指數(shù)衰蕩時間,直接換算出 ppm/ppb 級痕量氣體濃度,無需化學試劑或耗材。
代表機型
在 SPARK 基礎(chǔ)上擴展了 NH? 等更多雜質(zhì)通道,同樣免維護
主要面向超高純氣體與半導(dǎo)體工藝
免校準、免耗材,生命周期成本低
小流量即可高響應(yīng),可測 H?O、CO、CO?、CH?、C?H? 等多種雜質(zhì)
適用于高純氣體、半導(dǎo)體特氣、低溫分離裝置等場景
性能亮點
典型應(yīng)用
使用與維護
總結(jié):TEKHNE 的 CRDS 分析計以“免校準、免耗材、ppb 級精度"為核心賣點,SPARK 與 HALO KA Max 兩大系列覆蓋了從現(xiàn)場抽檢到半導(dǎo)體超純氣體在線監(jiān)測的多種需求,是當前痕量水分和氣體雜質(zhì)檢測的利器。
技術(shù)路線采用高性能光腔衰蕩光譜 (CRDS) 技術(shù),通過測量激光在高品質(zhì)諧振腔內(nèi)的指數(shù)衰蕩時間,直接換算出 ppm/ppb 級痕量氣體濃度,無需化學試劑或耗材
。
代表機型
性能亮點
典型應(yīng)用
使用與維護
開機即用,無需量程切換、漂移校正或耗材更換
結(jié)構(gòu)緊湊,可臺式、19″機架或便攜式安裝;支持模擬/數(shù)字輸出,方便接入 DCS
總結(jié):TEKHNE 的 CRDS 分析計以“免校準、免耗材、ppb 級精度"為核心賣點,SPARK 與 HALO KA Max 兩大系列覆蓋了從現(xiàn)場抽檢到半導(dǎo)體超純氣體在線監(jiān)測的多種需求,是當前痕量水分和氣體雜質(zhì)檢測的利器。